產品介紹
- 概況
掃描電子顯微鏡的英文全稱為Scanning Electron Microscope,簡稱掃描電鏡或者SEM。掃描電鏡是一種用于放大并觀察物體表面結構的電子光學儀器。掃描電鏡由鏡筒、電子信號的收集和處理系統、電子信號的顯示和記錄系統、真空系統和電源系統等組成，具有放大倍數可調范圍寬、圖像分辨率高和景深大等特點。
- 軟件特性
1、臺式電鏡，體形小巧，占用空間小；
2、強大的軟件功能，單窗口操作界面讓用戶操作方便簡單；
3、軟件實現檢測圖形實時存儲；
4、產品結構設計簡潔，易于維護及保養；
5、自動平臺采用中心定位模式，迅速定位待測樣品；
6、高低壓真空設計，可調試電壓，為不同樣品提供更合適的檢測環境
產品說明：
(1 )最大放大倍率是6萬倍；
(2 )采用二次電子和背散射電子兩種探測器；
(3)加速電壓有1KV、5KV、10KV、15KV、20KV、30KV可選，圖像分辨率高;
(4 )通過選配EDS可進行元素成份分析;
(5 )選配冷卻臺可在無前置處理的情況下對水分進行采樣分析;
(6 )高/低真空的配置可縮短前處理過程；
(7 )選配CCD攝像頭可實時觀察載物臺內部；
電鏡實驗圖片
- 規格
產品應用：
由于掃描電鏡具有觀察納米材料、材料端口分析、直接觀察原始表面等特點和功能，所以越來越多受到科研人員的重視，用途日益廣泛。
現在掃描電鏡已廣泛用于材料科學、冶金、生物學、醫學、半導體材料與器件、地質勘探、病蟲害的防治、災害鑒定、寶石鑒定、工業生產中的產品質量鑒定及生產工藝控制等。
