硫化鎳礦石中的雜質含量如何檢測？ (含譜圖) 發布日期：2017-07-27 00:00:00 文章來源：萊雷科技
手持式X射線熒光（XRF）分析儀提供高性能，實時的地球化學數據，用于快速多元素表征土壤，巖石和礦石。 手持式XRF技術的最新進展大大提高了檢測下限，增加了測量元素的數量，大大降低了分析測試時間。 當用于礦物勘探和等級評估時，DELTA手持XRF分析儀可以提供在土壤，鉆屑和鉆芯樣品中發現的鎳（Ni）的實時分析。
圖一硫化鎳礦石
手持式礦石分析儀用于世界各地監測活躍露天礦和地下礦山的礦石品位。 具體來說，手持式礦石分析儀可精確測量NiS沉積物中不需要的元素的濃度。 NiS沉積物中的砷（As），鉛（Pb），鉍（Bi）和鋅（Zn）等元素的存在與濃度影響沉積物的冶煉。 高Fe：MgO比優于富含Mg的礦物如滑石和纖維蛇紋石，這對于常規工藝回路可能是有問題的，并且顯著地影響回收質量。XRF分析儀可以減少在實驗室中使用氫氟酸來分析其中的一些元素，如As。這使得礦場實驗室的工作環境更安全。
DELTA手持式X射線熒光（XRF）分析儀可以在NiS礦山，礦井實驗室和Ni處理設施內提供方便，快速的測量與NiS勘探相關的許多類型的樣品。DELTA手持式XRF分析儀可以提供即時的結果，幫助確定整個過程的下一步行動 - 勘探，礦石等級/過程控制，環境可持續性。 現場檢測金屬，礦物質和污染物，節省時間，節約成本。如下圖所示，DELTA Premium手持礦石分析儀的結果與認證值顯示出良好的相關性，分析結果與認證值非常接近，精確度和準確度很好。
圖二硫化鎳礦石所含雜質圖譜
